臺(tái)式式高精度直流絕緣性能測(cè)試儀高阻計(jì)

產(chǎn)品名稱: 臺(tái)式式高精度直流絕緣性能測(cè)試儀高阻計(jì)

產(chǎn)品型號(hào): D1-11N系列 1405

產(chǎn)品特點(diǎn): 臺(tái)式式高精度直流絕緣性能測(cè)試儀高阻計(jì)
日本 Musashi 武藏 D1-11N 系列 405 絕緣電阻測(cè)試儀是一款臺(tái)式高精度直流絕緣電阻計(jì)，主要用于鋰電池、電容器、半導(dǎo)體器件、印刷電路板、薄膜材料等高阻值、微漏電流的絕緣性能評(píng)估。核心信息如下：
? 產(chǎn)品定位
非手持式兆歐表，而是實(shí)驗(yàn)室級(jí)高阻計(jì)（Tera-ohmmeter）
可測(cè) 絕緣電阻、漏電流、體電阻、表面電阻
適用于電池隔膜、電解電

臺(tái)式式高精度直流絕緣性能測(cè)試儀高阻計(jì) 的詳細(xì)介紹

臺(tái)式式高精度直流絕緣性能測(cè)試儀高阻計(jì)臺(tái)式式高精度直流絕緣性能測(cè)試儀高阻計(jì)

日本 Musashi 武藏 D1-11N 系列 405 絕緣電阻測(cè)試儀是一款臺(tái)式高精度直流絕緣電阻計(jì)，主要用于鋰電池、電容器、半導(dǎo)體器件、印刷電路板、薄膜材料等高阻值、微漏電流的絕緣性能評(píng)估。核心信息如下：? 產(chǎn)品定位非手持式兆歐表，而是實(shí)驗(yàn)室級(jí)高阻計(jì)（Tera-ohmmeter）可測(cè) 絕緣電阻、漏電流、體電阻、表面電阻適用于電池隔膜、電解電容、PCB 基材、OLED 封裝、薄膜絕緣層等? 核心參數(shù)（D1-11N-405 型）表格復(fù)制項(xiàng)目規(guī)格測(cè)試電壓1 V – 1000 V（1 V 步進(jìn)）絕緣電阻范圍1 kΩ – 10 PΩ（10×101? Ω）漏電流范圍0.1 fA – 1 mA（10?1? A 級(jí)）精度±1 %（電阻 ≤ 10 TΩ） / ±5 %（> 10 TΩ）測(cè)試時(shí)間0.1 s – 999.9 s 可設(shè)定采樣速率最高 1 000 次/秒（高速模式）輸出接口USB、RS-232、LAN（可選）、模擬輸出? 技術(shù)亮點(diǎn)fA 級(jí)漏電流檢測(cè)采用三同軸 + 屏蔽 + 浮地設(shè)計(jì)，背景噪聲 < 0.1 fA可測(cè) 電池隔膜離子透過(guò)率、OLED 封裝漏電流、PCB 表面絕緣自動(dòng)極性反轉(zhuǎn)（PIV）軟件設(shè)定正負(fù)電壓循環(huán)，消除靜電累積，適合極化薄膜測(cè)試溫度 & 濕度同步采集可外接溫濕度探頭，自動(dòng)記錄 R-t-T-RH 曲線，用于 IEC-60093、ASTM D257 標(biāo)準(zhǔn)報(bào)告高壓斜坡掃描線性升壓 1 – 1000 V，掃描速率 0.1 – 100 V/s，繪制 V-I 曲線，定位擊穿電壓體電阻 & 表面電阻自動(dòng)切換搭配環(huán)形電極箱（D1-11N-BOX），一鍵切換體積電阻率（ρv）與表面電阻率（ρs）? 典型應(yīng)用表格復(fù)制行業(yè)測(cè)試對(duì)象典型指標(biāo)鋰電池隔膜、鋁塑膜1000 V 下絕緣 > 1 TΩ·cm電容薄膜電容、電解電容漏電流 < 1 nA @ 500 V半導(dǎo)體封裝基板、晶圓級(jí)封裝表面電阻 > 1012 Ω/□OLED封裝玻璃、PI 膜漏電流 < 1 pA @ 100 VPCBFR-4、聚酰亞胺體電阻 > 1013 Ω·cm? 外形與安裝臺(tái)式尺寸：W 260 × D 380 × H 140 mm，重量 6.2 kg前面板：7 英寸觸控，中文 / 英文 / 日文菜單后面板：高壓輸出 BNC、三同軸信號(hào)輸入、USB/LAN可選機(jī)架：EIA 19 英寸 4U 上架套件? 標(biāo)準(zhǔn)與校準(zhǔn)符合 JIS C 1302、IEC 60093、ASTM D257、IEC 61340-2-3附贈(zèng) 10 GΩ / 1 TΩ 標(biāo)準(zhǔn)電阻器，用戶 30 秒完成日常校驗(yàn)建議 12 個(gè)月返廠計(jì)量，出具 JCSS 溯源證書? 一句話總結(jié)D1-11N-405 是一臺(tái)可輸出 1 V – 1 kV、能測(cè)到 10 PΩ / 0.1 fA 級(jí)別的臺(tái)式高阻計(jì)，專為電池隔膜、OLED 封裝、PCB 基材等超高阻絕緣性能測(cè)試設(shè)計(jì)，具備 fA 級(jí)分辨率、自動(dòng)極性反轉(zhuǎn)、溫濕度同步記錄等實(shí)驗(yàn)室功能，是材料級(jí)絕緣性能研究和質(zhì)控的“臺(tái)式 tera-ohmmeter"。日本 Musashi 武藏 D1-11N 系列 405 絕緣電阻測(cè)試儀是一款臺(tái)式高精度直流絕緣電阻計(jì)，主要用于鋰電池、電容器、半導(dǎo)體器件、印刷電路板、薄膜材料等高阻值、微漏電流的絕緣性能評(píng)估。核心信息如下：? 產(chǎn)品定位非手持式兆歐表，而是實(shí)驗(yàn)室級(jí)高阻計(jì)（Tera-ohmmeter）可測(cè) 絕緣電阻、漏電流、體電阻、表面電阻適用于電池隔膜、電解電容、PCB 基材、OLED 封裝、薄膜絕緣層等? 核心參數(shù)（D1-11N-405 型）表格復(fù)制項(xiàng)目規(guī)格測(cè)試電壓1 V – 1000 V（1 V 步進(jìn)）絕緣電阻范圍1 kΩ – 10 PΩ（10×101? Ω）漏電流范圍0.1 fA – 1 mA（10?1? A 級(jí)）精度±1 %（電阻 ≤ 10 TΩ） / ±5 %（> 10 TΩ）測(cè)試時(shí)間0.1 s – 999.9 s 可設(shè)定采樣速率最高 1 000 次/秒（高速模式）輸出接口USB、RS-232、LAN（可選）、模擬輸出? 技術(shù)亮點(diǎn)fA 級(jí)漏電流檢測(cè)采用三同軸 + 屏蔽 + 浮地設(shè)計(jì)，背景噪聲 < 0.1 fA可測(cè) 電池隔膜離子透過(guò)率、OLED 封裝漏電流、PCB 表面絕緣自動(dòng)極性反轉(zhuǎn)（PIV）軟件設(shè)定正負(fù)電壓循環(huán)，消除靜電累積，適合極化薄膜測(cè)試溫度 & 濕度同步采集可外接溫濕度探頭，自動(dòng)記錄 R-t-T-RH 曲線，用于 IEC-60093、ASTM D257 標(biāo)準(zhǔn)報(bào)告高壓斜坡掃描線性升壓 1 – 1000 V，掃描速率 0.1 – 100 V/s，繪制 V-I 曲線，定位擊穿電壓體電阻 & 表面電阻自動(dòng)切換搭配環(huán)形電極箱（D1-11N-BOX），一鍵切換體積電阻率（ρv）與表面電阻率（ρs）? 典型應(yīng)用表格復(fù)制行業(yè)測(cè)試對(duì)象典型指標(biāo)鋰電池隔膜、鋁塑膜1000 V 下絕緣 > 1 TΩ·cm電容薄膜電容、電解電容漏電流 < 1 nA @ 500 V半導(dǎo)體封裝基板、晶圓級(jí)封裝表面電阻 > 1012 Ω/□OLED封裝玻璃、PI 膜漏電流 < 1 pA @ 100 VPCBFR-4、聚酰亞胺體電阻 > 1013 Ω·cm? 外形與安裝臺(tái)式尺寸：W 260 × D 380 × H 140 mm，重量 6.2 kg前面板：7 英寸觸控，中文 / 英文 / 日文菜單后面板：高壓輸出 BNC、三同軸信號(hào)輸入、USB/LAN可選機(jī)架：EIA 19 英寸 4U 上架套件? 標(biāo)準(zhǔn)與校準(zhǔn)符合 JIS C 1302、IEC 60093、ASTM D257、IEC 61340-2-3附贈(zèng) 10 GΩ / 1 TΩ 標(biāo)準(zhǔn)電阻器，用戶 30 秒完成日常校驗(yàn)建議 12 個(gè)月返廠計(jì)量，出具 JCSS 溯源證書? 一句話總結(jié)D1-11N-405 是一臺(tái)可輸出 1 V – 1 kV、能測(cè)到 10 PΩ / 0.1 fA 級(jí)別的臺(tái)式高阻計(jì)，專為電池隔膜、OLED 封裝、PCB 基材等超高阻絕緣性能測(cè)試設(shè)計(jì)，具備 fA 級(jí)分辨率、自動(dòng)極性反轉(zhuǎn)、溫濕度同步記錄等實(shí)驗(yàn)室功能，是材料級(jí)絕緣性能研究和質(zhì)控的“臺(tái)式 tera-ohmmeter"。

日本 Musashi 武藏 D1-11N 系列 405 絕緣電阻測(cè)試儀是一款臺(tái)式高精度直流絕緣電阻計(jì)，主要用于鋰電池、電容器、半導(dǎo)體器件、印刷電路板、薄膜材料等高阻值、微漏電流的絕緣性能評(píng)估。核心信息如下：

? 產(chǎn)品定位

非手持式兆歐表，而是實(shí)驗(yàn)室級(jí)高阻計(jì)（Tera-ohmmeter）
可測(cè) 絕緣電阻、漏電流、體電阻、表面電阻
適用于電池隔膜、電解電容、PCB 基材、OLED 封裝、薄膜絕緣層等

? 核心參數(shù)（D1-11N-405 型）

表格

復(fù)制

項(xiàng)目	規(guī)格
測(cè)試電壓	1 V – 1000 V（1 V 步進(jìn)）
絕緣電阻范圍	1 kΩ – 10 PΩ（10×101? Ω）
漏電流范圍	0.1 fA – 1 mA（10?1? A 級(jí)）
精度	±1 %（電阻 ≤ 10 TΩ） / ±5 %（> 10 TΩ）
測(cè)試時(shí)間	0.1 s – 999.9 s 可設(shè)定
采樣速率	最高 1 000 次/秒（高速模式）
輸出接口	USB、RS-232、LAN（可選）、模擬輸出

? 技術(shù)亮點(diǎn)

fA 級(jí)漏電流檢測(cè)

采用三同軸 + 屏蔽 + 浮地設(shè)計(jì)，背景噪聲 < 0.1 fA
可測(cè) 電池隔膜離子透過(guò)率、OLED 封裝漏電流、PCB 表面絕緣

自動(dòng)極性反轉(zhuǎn)（PIV）

軟件設(shè)定正負(fù)電壓循環(huán)，消除靜電累積，適合極化薄膜測(cè)試

溫度 & 濕度同步采集

可外接溫濕度探頭，自動(dòng)記錄 R-t-T-RH 曲線，用于 IEC-60093、ASTM D257 標(biāo)準(zhǔn)報(bào)告

高壓斜坡掃描

線性升壓 1 – 1000 V，掃描速率 0.1 – 100 V/s，繪制 V-I 曲線，定位擊穿電壓

體電阻 & 表面電阻自動(dòng)切換

搭配環(huán)形電極箱（D1-11N-BOX），一鍵切換體積電阻率（ρv）與表面電阻率（ρs）

? 典型應(yīng)用

表格

復(fù)制

行業(yè)	測(cè)試對(duì)象	典型指標(biāo)
鋰電池	隔膜、鋁塑膜	1000 V 下絕緣 > 1 TΩ·cm
電容	薄膜電容、電解電容	漏電流 < 1 nA @ 500 V
半導(dǎo)體	封裝基板、晶圓級(jí)封裝	表面電阻 > 1012 Ω/□
OLED	封裝玻璃、PI 膜	漏電流 < 1 pA @ 100 V
PCB	FR-4、聚酰亞胺	體電阻 > 1013 Ω·cm

? 外形與安裝

臺(tái)式尺寸：W 260 × D 380 × H 140 mm，重量 6.2 kg
前面板：7 英寸觸控，中文 / 英文 / 日文菜單
后面板：高壓輸出 BNC、三同軸信號(hào)輸入、USB/LAN
可選機(jī)架：EIA 19 英寸 4U 上架套件

? 標(biāo)準(zhǔn)與校準(zhǔn)

符合 JIS C 1302、IEC 60093、ASTM D257、IEC 61340-2-3
附贈(zèng) 10 GΩ / 1 TΩ 標(biāo)準(zhǔn)電阻器，用戶 30 秒完成日常校驗(yàn)
建議 12 個(gè)月返廠計(jì)量，出具 JCSS 溯源證書

? 一句話總結(jié)

D1-11N-405 是一臺(tái)可輸出 1 V – 1 kV、能測(cè)到 10 PΩ / 0.1 fA 級(jí)別的臺(tái)式高阻計(jì)，專為電池隔膜、OLED 封裝、PCB 基材等超高阻絕緣性能測(cè)試設(shè)計(jì)，具備 fA 級(jí)分辨率、自動(dòng)極性反轉(zhuǎn)、溫濕度同步記錄等實(shí)驗(yàn)室功能，是材料級(jí)絕緣性能研究和質(zhì)控的“臺(tái)式 tera-ohmmeter"。

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